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出版年度

	2018	1篇
	2017	1篇
	2015	2篇
	2013	3篇
	2010	4篇

	2009	4篇
	2008	6篇
	2007	6篇
	2006	2篇
	2005	2篇
	2004	6篇

作者

	Jusas, Vacius	33篇
	Motiejūnas, Kęstutis	28篇
	Bareiša, Eduardas	26篇
	Šeinauskas, Rimantas	26篇
	Jusas Vacius	4篇

	Bareiša Eduardas	2篇
	Birvinskas Darius	2篇
	Damasevicius Robertas	2篇
	Martisius Ignas	2篇
	Motiejūnas Kęstutis	2篇
	Motiejūnas, Liudas	2篇
	Packevičius, Šarūnas	2篇
	Tamoševičius, Žydrūnas	2篇
	Šeinauskas Rimantas	2篇
	Bareisa, Eduardas	1篇
	Motiejunas, Kestutis	1篇
	Motiejunas, Liudas	1篇
	Neverdauskas, Tomas	1篇
	Paulikas, Kęstutis	1篇
	Seinauskas, Rimantas	1篇
	Toldinas, Jevgenijus	1篇
	Venčkauskas, Algimantas	1篇

文章类型

Research Article

31篇

来源期刊

	Engineering Economics	16篇
	Information Technology And Control	15篇
	Computer Science and Information Systems	6篇

学科主题

	工业经济	16篇
	经济	15篇
	图书馆学	6篇
	情报学	6篇

语种

英文

37篇

国别/地区

	立陶宛	15篇
	塞尔维亚	6篇

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共 37 条记录

排序：全选导出：

1.Functional delay test generation approach using a software prototype of the circuit

作　　者：Bareiša Eduardas ;Jusas Vacius ;Motiejūnas Kęstutis 等

出　　处：Computer Science and Information Systems. 2013 ;:19-19.doi:10.2298/CSIS120416019B

出版社：ComSIS Consortium

文章 ID：84534901

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2.Functional delay test generation approach using a software prototype of the circuit

作　　者：Bareiša Eduardas ;Jusas Vacius ;Motiejūnas Kęstutis 等

出　　处：Computer Science and Information Systems. 2013 ;10(3):1165-1184.doi:10.2298/CSIS120416019B

出版社：ComSIS Consortium

文章 ID：86577391

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3.Fast DCT algorithms for EEG data compression in embedded systems

作　　者：Birvinskas Darius ;Jusas Vacius ;Martisius Ignas 等

出　　处：Computer Science and Information Systems. 2015 ;:83-83.doi:10.2298/CSIS140101083B

出版社：ComSIS Consortium

文章 ID：95918668

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4.Fast DCT algorithms for EEG data compression in embedded systems

作　　者：Birvinskas Darius ;Jusas Vacius ;Martisius Ignas 等

出　　处：Computer Science and Information Systems. 2015 ;12(1):49-62.doi:10.2298/CSIS140101083B

出版社：ComSIS Consortium

文章 ID：98866110

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5.THE INFLUENCE OF CIRCUIT RE-SYNTHESIZING ON THE FAULT COVERAGE

作　　者：Bareiša, Eduardas ;Jusas, Vacius ;Motiejūnas, Kęstutis 等

出　　处：Information Technology And Control. 2004 ;31(2).doi:10.5755/j01.itc.31.2.11844

出版社：Kaunas University of Technology

文章 ID：101279622

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6.BLACK-BOX FAULT MODELS

作　　者：Bareiša, Eduardas ;Jusas, Vacius ;Motiejūnas, Kęstutis 等

出　　处：Information Technology And Control. 2006 ;35(3).doi:10.5755/j01.itc.35.3.11771

出版社：Kaunas University of Technology

文章 ID：101279643

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7.ON THE ENRICHMENT OF FUNCTIONAL DELAY FAULT TESTS

作　　者：Bareiša, Eduardas ;Jusas, Vacius ;Motiejūnas, Kęstutis 等

出　　处：Information Technology And Control. 2009 ;38(3).doi:10.5755/j01.itc.38.3.12124

出版社：Kaunas University of Technology

文章 ID：101279646

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8.REALIZATION-INDEPENDENT TESTING OF SEQUENTIAL CIRCUITS. EXPERIMENTAL RESULTS

作　　者：Bareiša, Eduardas ;Jusas, Vacius ;Motiejūnas, Kęstutis 等

出　　处：Information Technology And Control. 2004 ;32(3).doi:10.5755/j01.itc.32.3.11859

出版社：Kaunas University of Technology

文章 ID：101279675

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9.PROPERTIES OF VARIABLE N-DETECTION FUNCTIONAL DELAY FAULT TESTS

作　　者：Bareiša, Eduardas ;Jusas, Vacius ;Motiejūnas, Kęstutis 等

出　　处：Information Technology And Control. 2008 ;37(2).doi:10.5755/j01.itc.37.2.11935

出版社：Kaunas University of Technology

文章 ID：101279700

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10.FUNCTIONAL DELAY CLOCK FAULT MODELS

作　　者：Bareiša, Eduardas ;Jusas, Vacius ;Motiejūnas, Kęstutis 等

出　　处：Information Technology And Control. 2008 ;37(1).doi:10.5755/j01.itc.37.1.11898

出版社：Kaunas University of Technology

文章 ID：101279704

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