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3篇

出版年度

	2017	2篇
	2015	1篇

作者

	Holland, Anthony S.	3篇
	Pan, Yue	3篇
	Alnassar, Mohammad Saleh N.	1篇
	Collins, Aaron M.	1篇
	Leech, Patrick W.	1篇

	Luong, Stanley	1篇
	Reeves, Geoffrey K.	1篇
	Shrestha, Neelu	1篇

来源期刊

Facta universitatis - series: Electronics and Energetics

3篇

学科主题

	工业经济	3篇
	真空电子学（电子物理学）	3篇

语种

英文

3篇

国别/地区

塞尔维亚

3篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Holland, Anthony S.")))) )) ) )"

共 3 条记录

排序：全选导出：

1.Using a two-contact circular test structure to determine the specific contact resistivity of contacts to bulk semiconductors

作　　者：Collins, Aaron M. ;Pan, Yue ;Holland, Anthony S.

出　　处：Facta universitatis - series: Electronics and Energetics. 2015 ;28(3):457-464.doi:10.2298/FUEE1503457C

出版社：University of Niš

文章 ID：105329883

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2.Analytical test structure model for determining lateral effects of tri-layer ohmic contact beyond the contact edge

作　　者：Shrestha, Neelu ;Reeves, Geoffrey K. ;Leech, Patrick W. 等

出　　处：Facta universitatis - series: Electronics and Energetics. 2017 ;30(2):257-265.

出版社：University of Niš

文章 ID：204078031

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3.Circular test structures for determining the specific contact resistance of ohmic contacts

作　　者：Holland, Anthony S. ;Pan, Yue ;Alnassar, Mohammad Saleh N. 等

出　　处：Facta universitatis - series: Electronics and Energetics. 2017 ;30(3):313-326.

出版社：University of Niš

文章 ID：204078045

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