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1篇

出版年度

2005

1篇

作者

	Cho, Won-Il	1篇
	Choi, Ji-Hyun	1篇
	Choi, Sung-Woon	1篇
	Kim, Hyun-Su	1篇
	Kim, Jin-Tae	1篇

	Park, Jong-Rak	1篇
	Sung, Moon-Gyu	1篇

来源期刊

ETRI Journal

1篇

学科主题

	应用物理学	1篇
	电信	1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

韩国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Park, Jong-Rak")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Laser Process Proximity Correction for Improvement of Critical Dimension Linearity on a Photomask

作　　者：Park, Jong-Rak ;Kim, Hyun-Su ;Kim, Jin-Tae 等

出　　处：ETRI Journal. 2005 ;27(2):188-188.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421625

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1

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