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1篇

出版年度

2017

1篇

作者

	J Santhosh	1篇
	Mini N	1篇

来源期刊

International Journal of Innovative Research in Computer and Communication Engineering

1篇

学科主题

计算技术、计算机技术

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

印度

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Mini N")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.A Deep Survey on Mutational Testing and Test Adequacy Check

作　　者：J Santhosh ;Mini N

出　　处：International Journal of Innovative Research in Computer and Communication Engineering. 2017 ;5(8):14109.doi:10.15680/IJIRCCE.2017.0508041

出版社：S&S Publications

文章 ID：215690851

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