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2篇

出版年度

	2008	1篇
	1981	1篇

作者

	Kim, Sang-Bae	1篇
	Kim, Sang-In	1篇
	Kim, Tae Yong	1篇
	Kim, Tae-Ki	1篇
	Kim, Tae-Yong	1篇

	Song, Hee Sun	1篇
	Song, Yoon Sick	1篇

来源期刊

	ETRI Journal	1篇
	Korean Journal of Anesthesiology	1篇

学科主题

	应用物理学	1篇
	电信	1篇
	社会科学总论	1篇
	自然科学总论	1篇

语种

英文

2篇

国别/地区

韩国

2篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Kim, Tae-Yong")))) )) ) )"

共 2 条记录

排序：全选导出：

1.Degradation Behavior of 850 nm AlGaAs/GaAs Oxide VCSELs Suffered from Electrostatic Discharge

作　　者：Kim, Tae-Yong ;Kim, Tae-Ki ;Kim, Sang-In 等

出　　处：ETRI Journal. 2008 ;30(6):833-843.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421173

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2.Respiratory Arrest following Intrathecal Administration of Morphine

作　　者：Song, Yoon Sick ;Kim, Tae Yong ;Song, Hee Sun

出　　处：Korean Journal of Anesthesiology. 1981 ;14(3):336-340.doi:10.4097/kjae.1981.14.3.336

出版社：The Korean Society of Anesthesiologists,

文章 ID：187727492

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