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1篇

出版年度

2010

1篇

作者

	Han, Tae-Woo	1篇
	Jeong, Woo-Sik	1篇
	Kang, Sung-Ho	1篇
	Park, Young-Kyu	1篇

来源期刊

ETRI Journal

1篇

学科主题

	应用物理学	1篇
	电信	1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

韩国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Han, Tae-Woo")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.High Repair Efficiency BIRA Algorithm with a Line Fault Scheme

作　　者：Han, Tae-Woo ;Jeong, Woo-Sik ;Park, Young-Kyu 等

出　　处：ETRI Journal. 2010 ;32(4):642-644.doi:10.4218/etrij.10.0210.0097

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114420960

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