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1篇

出版年度

2018

1篇

作者

	Alberto Bosio	1篇
	Arnaud Virazel	1篇
	Aymen Touati	1篇
	Etienne Auvray	1篇
	Matteo Sonza Reorda	1篇

	Paolo Bernardi	1篇
	Patrick Girard	1篇

来源期刊

IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing

1篇

学科主题

计算技术、计算机技术

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

美国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Alberto Bosio")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Scan-Chain Intra-Cell Aware Testing

作　　者：Aymen Touati ;Alberto Bosio ;Patrick Girard 等

出　　处：IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing. 2018 ;6(2):278-287.doi:10.1109/TETC.2016.2624311

出版社：IEEE Publishing

文章 ID：216648571

文章详细

1

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