首页期刊浏览 2025年02月02日星期日

登录注册

全文

有全文链接

1篇

出版年度

2021

1篇

作者

	Bimal K. Sinha	1篇
	Yehenew G. Kifle	1篇

文章类型

Research Article

1篇

来源期刊

Sankhya. Series B, applied and interdisciplinary statistics

1篇

学科主题

	应用统计数学	1篇
	数理统计	1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

印度

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Yehenew G. Kifle")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Comparison of Some Exact Tests for a Common Location Parameter of Several Truncated Exponential Distributions with Different Scale Parameters

作　　者：Yehenew G. Kifle ;Bimal K. Sinha

出　　处：Sankhya. Series B, applied and interdisciplinary statistics. 2021 ;83:36-64.doi:10.1007/s13571-021-00254-1

出版社：Indian Statistical Institute

文章 ID：1032320440

文章详细

1

电话：010-85195300

E-mail：[email protected]

地址：中国北京建国门内大街5号中国社会科学院1#楼

扫一扫关注微信

联系我们|关于我们|网站声明

国家哲学社会科学文献中心版权所有