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1篇

出版年度

2016

1篇

作者

	Lawrence Rudner	1篇
	The Arcturus Group	1篇

来源期刊

Practical Assessment, Research and Evaluation

1篇

学科主题

教育

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

美国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("The Arcturus Group")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Accuracy of Bayes and Logistic Regression Subscale Probabilities for Educational and Certification Tests

作　　者：Lawrence Rudner ;The Arcturus Group

出　　处：Practical Assessment, Research and Evaluation. 2016 ;21(8).

出版社：ERIC: Clearinghouse On Assessment and Evaluation

文章 ID：185301656

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