1.MATLAB Based Cost Modeling for VLSI Testing

作　　者：Balwinder Singh ;Arun Khosla ;Sukhleen Bindra Narang

出　　处：International Journal of ACM Jordan. 2011 ;II(I).

出版社：ACM Jordan ISWSA Professional Chapter

文章 ID：88387043

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2.MATLAB Based Cost Modeling for VLSI Testing

作　　者：Authors: Balwinder Singh ;Arun Khosla ;Sukhleen Bindra Narang

出　　处：International Journal of ACM Jordan. 2012 ;II(II).

出版社：ACM Jordan ISWSA Professional Chapter

文章 ID：88387054

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3.Address Counter Generators for Low Power Memory BIST

作　　者：Balwinder Singh ;Sukhleen Bindra Narang ;Arun Khosla

出　　处：International Journal of Computer Science Issues. 2011 ;8(4).

出版社：IJCSI Press

文章 ID：86965496

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4.Address Counter Generators for Low Power Memory BIST

作　　者：Balwinder Singh Sukhleen Bindra Narang Arun Khosla

出　　处：International Journal of Computer Science Issues. 2011 ;8(4).

出版社：IJCSI Press

文章 ID：212317968

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5.Particle Swarm Optimization Framework for Low Power Testing of VLSI Circuits

作　　者：Balwinder Singh ;Sukhleen Bindra Narang ;Arun Khosla

出　　处：International Journal of Artificial Intelligence & Applications (IJAIA). 2011 ;2(3).

出版社：Academy & Industry Research Collaboration Center (AIRCC)

文章 ID：101192521

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