1.Thickness effect of ultra-thin Ta₂O₅ resistance switching layer in 28 nm-diameter memory cell

作　　者：Tae Hyung Park ;Seul Ji Song ;Hae Jin Kim 等

出　　处：Scientific Reports. 2015 ;5.doi:10.1038/srep15965

出版社：Springer Nature

文章 ID：146907524

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2.Real-time identification of the evolution of conducting nano-filaments in TiO₂ thin film ReRAM

作　　者：Seul Ji Song ;Jun Yeong Seok ;Jung Ho Yoon 等

出　　处：Scientific Reports. 2013 ;3.doi:10.1038/srep03443

出版社：Springer Nature

文章 ID：110194185

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3.Thickness effect of ultra-thin Ta2O5 resistance switching layer in 28 nm-diameter memory cell

作　　者：Tae Hyung Park ;Seul Ji Song ;Hae Jin Kim 等

出　　处：Scientific Reports. 2015 ;5(1).doi:10.1038/srep15965

出版社：Springer Nature

文章 ID：235881961

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4.Alternative interpretations for decreasing voltage with increasing charge in ferroelectric capacitors

作　　者：Seul Ji Song ;Yu Jin Kim ;Min Hyuk Park 等

出　　处：Scientific Reports. 2016 ;6(1).doi:10.1038/srep20825

出版社：Springer Nature

文章 ID：235854004

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5.Real-time identification of the evolution of conducting nano-filaments in TiO2 thin film ReRAM

作　　者：Seul Ji Song ;Jun Yeong Seok ;Jung Ho Yoon 等

出　　处：Scientific Reports. 2013 ;3(1).doi:10.1038/srep03443

出版社：Springer Nature

文章 ID：235843938

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	Cheol Seong Hwang	5篇
	Seul Ji Song	5篇
	Kyung Min Kim	4篇
	Beom Yong Kim	2篇
	Byung Joon Choi	2篇

	Gun Hwan Kim	2篇
	Hae Jin Kim	2篇
	Jun Yeong Seok	2篇
	Jung Ho Yoon	2篇
	Kee Jeung Lee	2篇
	Min Hwan Lee	2篇
	Soo Gil Kim	2篇
	Suock Chung	2篇
	Tae Hyung Park	2篇
	Anquan Jiang	1篇
	Han Joon Kim	1篇
	Jung-Hae Choi	1篇
	Keum Do Kim	1篇
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	Young Hwan Lee	1篇
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