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1篇

出版年度

2017

1篇

作者

	Holland, Anthony S.	1篇
	Leech, Patrick W.	1篇
	Pan, Yue	1篇
	Reeves, Geoffrey K.	1篇
	Shrestha, Neelu	1篇

来源期刊

Facta universitatis - series: Electronics and Energetics

1篇

学科主题

	工业经济	1篇
	真空电子学（电子物理学）	1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

塞尔维亚

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Reeves, Geoffrey K.")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Analytical test structure model for determining lateral effects of tri-layer ohmic contact beyond the contact edge

作　　者：Shrestha, Neelu ;Reeves, Geoffrey K. ;Leech, Patrick W. 等

出　　处：Facta universitatis - series: Electronics and Energetics. 2017 ;30(2):257-265.

出版社：University of Niš

文章 ID：204078031

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