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1篇

出版年度

2009

1篇

作者

	Jesse S. Jin1	1篇
	Mira Park1	1篇
	Sherlock L. Au2	1篇
	Suhuai Luo1	1篇
	Yue Cui	1篇

来源期刊

International Journal of Signal Processing, Image Processing and Pattern Recognition

1篇

学科主题

计算技术、计算机技术

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

韩国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Mira Park1")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Automated Defect Inspection Systems by Pattern Recognition

作　　者：Mira Park1 ;Jesse S. Jin1 ;Sherlock L. Au2 等

出　　处：International Journal of Signal Processing, Image Processing and Pattern Recognition. 2009 ;2(2).

出版社：SERSC

文章 ID：86824433

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1

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