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1篇

出版年度

2020

1篇

作者

	Chanmin Su	1篇
	Marian Enachescu	1篇
	Sergey Belikov	1篇

文章类型

Research Article

1篇

来源期刊

IFAC PapersOnLine

1篇

语种

英文

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Marian Enachescu")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.Image-Based Parametric Pattern Recognition for Micro- and Nano- Defect Detection

作　　者：Sergey Belikov ;Chanmin Su ;Marian Enachescu

出　　处：IFAC PapersOnLine. 2020 ;53(2):8591-8598.doi:10.1016/j.ifacol.2020.12.528

出版社：Elsevier

文章 ID：1031641685

文章详细

1

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