作 者:S. M. Shah ;M. F. M. Daud ;Z. Z. Abidin 等
出 处:International Journal of Electrical and Computer Engineering. 2018 ;8(3):1893-1902.doi:10.11591/ijece.v8i3.pp%p
出 版 社:Institute of Advanced Engineering and Science (IAES)
文 章 ID:218174395