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3篇

出版年度

	1998	1篇
	1996	1篇
	1993	1篇

作者

	Lyu, Jong-Son	3篇
	Yoo, Hyung-Joun	2篇
	Jeong, Jin-Woo	1篇
	Kang, Won-Gu	1篇
	Kim, Bo-Woo	1篇

Kim, Kwang-Ho

1篇

来源期刊

ETRI Journal

3篇

学科主题

	应用物理学	3篇
	电信	3篇

语种

英文

3篇

国别/地区

韩国

3篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Lyu, Jong-Son")))) )) ) )"

共 3 条记录

排序：全选导出：

1.Characteristics of Ferroelectric Transistors with $BaMgF_4$ Dielectric

作　　者：Lyu, Jong-Son ;Jeong, Jin-Woo ;Kim, Kwang-Ho 等

出　　处：ETRI Journal. 1998 ;20(2):241-241.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114421943

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2.A Novel Body-tied Silicon-On-Insulator(SOI) n-channel Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor with Grounded Body Electrode

作　　者：Kang, Won-Gu ;Lyu, Jong-Son ;Yoo, Hyung-Joun

出　　处：ETRI Journal. 1996 ;17(4):1-1.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422001

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3.A New Method for Extracting Interface Trap Density in Short-Channel MOSFETs from Substrate-Bias-Dependent Subthreshold Slopes

作　　者：Lyu, Jong-Son

出　　处：ETRI Journal. 1993 ;15(2):11-11.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422033

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