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2篇

出版年度

2013

2篇

作者

	ChaeHo Shin	2篇
	Chung Sam Jun	2篇
	JeongHoi Kim	2篇
	Kyongjun Kim	2篇
	SangKil Lee	2篇

	Wooseok Ko	2篇
	Youn Sang Kim	2篇
	Yusin Yang	2篇

文章类型

Research Article

1篇

来源期刊

Scientific Reports

2篇

学科主题

自然科学总论

2篇

语种

英文

2篇

国别/地区

英国

2篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Kyongjun Kim")))) )) ) )"

共 2 条记录

排序：全选导出：

1.Fast, exact, and non-destructive diagnoses of contact failures in nano-scale semiconductor device using conductive AFM

作　　者：ChaeHo Shin ;Kyongjun Kim ;JeongHoi Kim 等

出　　处：Scientific Reports. 2013 ;3.doi:10.1038/srep02088

出版社：Springer Nature

文章 ID：110192839

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2.Fast, exact and non-destructive diagnoses of contact failures in nano-scale semiconductor device using conductive AFM

作　　者：ChaeHo Shin ;Kyongjun Kim ;JeongHoi Kim 等

出　　处：Scientific Reports. 2013 ;3(1).doi:10.1038/srep02088

出版社：Springer Nature

文章 ID：235843372

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1

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