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1篇

出版年度

2010

1篇

作者

	Guy Thoonen	1篇
	Jeroen Vanden Borre	1篇
	Koen Hufkens	1篇
	Paul Scheunders	1篇

来源期刊

ISPRS Annals of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences

1篇

学科主题

语言、文字

1篇

语种

英文

1篇

国别/地区

德国

1篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Guy Thoonen")))) )) ) )"

共 1 条记录

排序：全选导出：

1.USING PATCH METRICS AS VALIDATION FOR CONTEXTUAL CLASSIFICATION OF HEATHLAND VEGETATION

作　　者：Guy Thoonen ;Koen Hufkens ;Jeroen Vanden Borre 等

出　　处：ISPRS Annals of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences. 2010 ;XXXVIII - 4/C7.

出版社：Copernicus Publications

文章 ID：174419059

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