首页期刊浏览 2024年12月02日星期一

登录注册

全文

有本地全文

2篇

出版年度

	1992	1篇
	1984	1篇

作者

	Go, Jae-Sang	2篇
	Jeong, Cheol-O	1篇
	Kim, Chang-Hui	1篇
	Kim, Jong-Min	1篇
	Lee, Dae-Gi	1篇

Lee, Jong-Suk

1篇

来源期刊

ETRI Journal

2篇

学科主题

	应用物理学	2篇
	电信	2篇

语种

英文

2篇

国别/地区

韩国

2篇

检索条件:"( ( 高级检索(( ((AU:(("Go, Jae-Sang")))) )) ) )"

共 2 条记录

排序：全选导出：

1.운용데이타에 의한 부품 고장률 분석 및 예측고장률과의 비교 분석

作　　者：Jeong, Cheol-O ;Kim, Jong-Min ;Kim, Chang-Hui 等

出　　处：ETRI Journal. 1992 ;14(4):97-105.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422063

文章详细全文下载
2.Ericsson사의 품질/신뢰도 연구활동

作　　者：Lee, Dae-Gi ;Go, Jae-Sang

出　　处：ETRI Journal. 1984 ;6(1):53-56.

出版社：Electronics and Telecommunications Research Institute

文章 ID：114422419

文章详细全文下载

1

电话：010-85195300

E-mail：[email protected]

地址：中国北京建国门内大街5号中国社会科学院1#楼

扫一扫关注微信

联系我们|关于我们|网站声明

国家哲学社会科学文献中心版权所有