1.Improved 3LIN Hardness via Linear Label Cover

作　　者：Prahladh Harsha ;Subhash Khot ;Euiwoong Lee 等

出　　处：Electronic Colloquium on Computational Complexity. 2019 ;2019:1-17.

出版社：Universität Trier, Lehrstuhl für Theoretische Computer-Forschung

文章 ID：243029102

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2.Improved 3LIN Hardness via Linear Label Cover

作　　者：Prahladh Harsha ;Subhash Khot ;Euiwoong Lee 等

出　　处：Electronic Colloquium on Computational Complexity. 2019 ;2019:1-17.

出版社：Universität Trier, Lehrstuhl für Theoretische Computer-Forschung

文章 ID：243731509

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3.Improved 3LIN Hardness via Linear Label Cover

作　　者：Prahladh Harsha ;Subhash Khot ;Euiwoong Lee 等

出　　处：LIPIcs : Leibniz International Proceedings in Informatics. 2019 ;145:1-16.doi:10.4230/LIPIcs.APPROX-RANDOM.2019.9

出版社：Schloss Dagstuhl -- Leibniz-Zentrum fuer Informatik

文章 ID：240116455

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4.An Improved Dictatorship Test with Perfect Completeness

作　　者：Amey Bhangale ;Subhash Khot ;Devanathan Thiruvenkatachari

出　　处：Electronic Colloquium on Computational Complexity. 2017 ;2017.

出版社：Universität Trier, Lehrstuhl für Theoretische Computer-Forschung

文章 ID：207621280

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5.An Improved Dictatorship Test with Perfect Completeness

作　　者：Amey Bhangale ;Subhash Khot ;Devanathan Thiruvenkatachari

出　　处：LIPIcs : Leibniz International Proceedings in Informatics. 2018 ;93:15:1-15:23.doi:10.4230/LIPIcs.FSTTCS.2017.15

出版社：Schloss Dagstuhl -- Leibniz-Zentrum fuer Informatik

文章 ID：220015400

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	Devanathan Thiruvenkatachari	5篇
	Subhash Khot	5篇
	Euiwoong Lee	3篇
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	Amey Bhangale	2篇

	Electronic Colloquium on Computational Complexity	3篇
	LIPIcs : Leibniz International Proceedings in Informatics	2篇

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