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出版年度

	2018	1篇
	2013	2篇
	2011	1篇

作者

	Abhijit Kulshrestha	2篇
	Prof. Abhijit Kulshrestha	2篇
	A. K. Sharma	1篇
	Jitender Singh	1篇
	Jitender Singh, Prof. Vijay Singh Rathod*	1篇

	Prof. Vijay Singh Rathod**	1篇
	Rakesh Kothari	1篇
	Ruchi Agrawal	1篇
	Sushamana Sharma	1篇
	Vaibhav Jain	1篇

来源期刊

	International Journal of Electrical, Electronics and Computer Engineering	2篇
	Journal of Pure and Applied Science and Technology	2篇

学科主题

	历史、地理	2篇
	计算技术、计算机技术	2篇

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4篇

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印度

4篇

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共 4 条记录

排序：全选导出：

1.Effect Of E-M Field On Hall Coefficient Of ZnTe Thin Film

作　　者：Vaibhav Jain ;Ruchi Agrawal ;Abhijit Kulshrestha 等

出　　处：Journal of Pure and Applied Science and Technology. 2011 ;1(1):1-3.

出版社：Natthan Lal Sevarth Samiti

文章 ID：181211249

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2.The Study of Wi-Fi Communication and Network Security Technique and Issues in Real Time

作　　者：Jitender Singh ;Prof. Vijay Singh Rathod** ;Prof. Abhijit Kulshrestha

出　　处：International Journal of Electrical, Electronics and Computer Engineering. 2013 ;2(1):4.

出版社：RESEARCH TREND

文章 ID：174805176

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3.The Study of Wi-Fi Communication and Network Security Technique and Issues in Real Time

作　　者：Jitender Singh*, Prof. Vijay Singh Rathod** ;Prof. Abhijit Kulshrestha

出　　处：International Journal of Electrical, Electronics and Computer Engineering. 2013 ;(827):4.

出版社：RESEARCH TREND

文章 ID：112945145

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4.Entanglement Detection Criterion in terms of Probability Amplitudes

作　　者：Sushamana Sharma ;Rakesh Kothari ;Abhijit Kulshrestha

出　　处：Journal of Pure and Applied Science and Technology. 2018 ;2018:43-46.

出版社：Natthan Lal Sevarth Samiti

文章 ID：1037771056

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