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标题：Validade do conjunto de testes da habilidade de memória de curto-prazo (CTMC)
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作者：Cristiano Mauro Assis Gomes
期刊名称：Estudos de Psicologia
印刷版ISSN：1413-294X
电子版ISSN：1678-4669
出版年度：2011
卷号：16
期号：3
页码：235-242
语种：Portuguese
出版社：Universidade Federal do Rio Grande do Norte
摘要：Este artigo analisa em nível exploratório a validade do CTMC, em termos de sua estrutura fatorial, validade convergente, validade discriminante e validade preditiva. Serão analisadas as respostas de 230 participantes que cursavam o ensino médio. Para investigar a estrutura fatorial foi usada a análise fatorial exploratória. Para investigar a validade convergente, divergente e preditiva foi usado o modelamento por equação estrutural. Os resultados apontam que os escores dos testes possuem adequada confiabilidade e validade. A estrutura fatorial dos itens dos testes indica a presença de três fatores especializados da memória de curto-prazo (Gsm). Os testes convergem para mensurar Gsm e divergem na mensuração de Gf. Gsm, medida pelo CTMC, prediz Gf.
其他摘要：This article is an exploratory study of CTMC validity. It investigates the CTMC factorial structure, and the convergent, divergent and predictive validity. Exploratory factor analysis was used to evaluate the factor structure of CTMC from 230 high school students' data. Structural equation modeling was used to evaluate the convergent, divergent and predictive validity. The result shows the reliability and validity of tests scores. The factorial structure of test items indicates three specialized factors of the short term memory (Gsm). Tests converge to measure Gsm while diverge to measure Gf. Gsm measured by CTMC predicts Gf.
关键词：Memória de curto prazo; validade; inteligência;Short term memory ability; validity; intelligence