文章基本信息

标题：Propuesta metodológica para caracterizar las áreas expuestas a riesgos tecnológicos mediante SIG. Aplicación en la Comunidad de Madrid
本地全文：下载
作者：Bosque Sendra, J ; Díaz Castillo, C ; Díaz Muñoz, M. A 等
期刊名称：GeoFocus
印刷版ISSN：1578-5157
出版年度：2004
期号：4
页码：44-78
出版社：Grupo de Métodos Cuantitativos, SIG y Teledetección, A.G.E
摘要：En la cartograf¨ªa de riesgos existen dos componentes de car¨¢cter espacial: la definici¨®n y caracterizaci¨®n de las ¨¢reas expuestas, por una parte y, por otra, el an¨¢lisis de la vulnerabilidad de la poblaci¨®n y el territorio. En este art¨ªculo, la atenci¨®n se centra exclusivamente en el primer componente, la exposici¨®n. Se plantea un procedimiento sencillo para establecer las zonas potencialmente expuestas a riesgos tecnol¨®gicos en el territorio. Se utilizan para ello las funciones de c¨¢lculo de distancias de un SIG, lo que permite determinar tres variables: zonas expuestas a alg¨²n riesgo, la intensidad de la exposici¨®n a riesgos en cada punto y la "probabilidad espacial" de ser afectado por un alg¨²n peligro de tipo tecnol¨®gico en la Comunidad de Madrid (Espa.a).
关键词：Riesgo tecnol¨®gico; exposici¨®n a riesgos; cartograf¨ªa de riesgos; SIG; Madrid ;(Espa.a); Arc/Info