光源ランプの光を全域用いて,透光度変化を測定している従来の方法に比較して,フィルターを用い分光した本報の結果は,短波長域を用いることにより,透光度変化をかなり低温から把握することを可能にした。例えば,トウモロコシ澱粉についてみると,アミログラフの立上り温度が70℃ を示したサンプルの場合,本装置を用い,372mμ の波長で測定を行なうと,60℃ 附近から急激に,透光度が減少し,その後増加することを認めた。また同一サンプルを610mμ 或いは970mμ で測定するとこの変曲点は65℃ になっている。　本装置を用いれば,澱粉を加熱した場合におこる変化を,アミログラフィー,その他従来の方法で感知できる温度より更に5～10℃ 低い温度から測定することが可能である。以上を要約すると,(1) フィルターを用いて分光した短波長光線を使用して,従来のいかなる方法でも感知し得なかった低温における澱粉粒の変化を測定した。(2) 微分回路を導入したことにより,フォトペーストグラムの変曲点を明確に知ることを可能にした。(3)加熱中における澱粉粒の部分過熱を防止するため,マントルヒーターによる外部からの加熱方式をとった。