従来からフォールトの潜在が疑われる(Fault-prone:FP)モジュールをメトリクスによって予測するという研究が行われている．そういった研究の成果は現場でのレビューやテストの計画に役立つと思われる．そこで本論文では，その種の研究成果を現場で活用する場面を想定し，限られた予算や時間の下でどのモジュールを重点的にレビューすれば最大限の効果が得られるかという問題に着目している．ここでは，“モジュールをレビューする価値” をそのモジュールのFP度合い(メトリクス値)で表し，あわせてそのレビューに要するコストも考慮しつつ，限られた予算内でレビュー価値が最大となるモジュール選択を0-1整数計画問題，すなわちナップサック問題として定式化することを提案している．NASA IV & V公開のデータを対象に500個のモジュールを無作為抽出したシミュレーション実験では，提案法によって費用対効果の高いモジュール選択が示されている．