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标题：HOW DOES PATENT EXAMINATION INDICATE STOCK PERFORMANCE? AN EMPIRICAL STUDY OF CHINA STOCK MARKET AND PATENTS
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作者：Hong-Wen Tsai ; Hui-Chung Che ; Bo Bai 等
期刊名称：International Journal of Economics and Research
电子版ISSN：2229-6158
出版年度：2021
期号：5
页码：1-29
语种：English
出版社：Sanben Agency